nikon計(jì)量學(xué)X-射線ct計(jì)算機(jī)控制X線斷層掃描術(shù)XTH450The XT H 450系統(tǒng)提供必要的來源力量通過高密度零件擊穿和引起消散自由的CT容量與微米準(zhǔn)確性。系統(tǒng)對(duì)優(yōu)選X-射線的匯集，無需奪取不受歡迎的疏散X-射線的一臺(tái)平板或業(yè)主彎曲的線列陣(CLA)探測(cè)器是可利用的。
這臺(tái)線性探測(cè)器通過避免圖象污染和伴生的對(duì)比減少體會(huì)驚人的圖象鋒利和對(duì)比。450 kV和CLA對(duì)小到中金屬合金渦輪葉片和casted零件的檢查是理想的。
